粉煤灰中二氧化硅（SiO₂）含量的测定方法主要有多种，包括化学分析方法和一些现代分析方法。以下是一些常见的测定方法：

一、化学分析方法

重量法

过程简述：试样经碱熔法分解，SiO₂转变成硅酸盐，加HCl后形成含有大量水分的无定形硅酸沉淀。在水浴上蒸发至干，再加入HCl和动物胶使硅酸凝聚。于70℃保温10分钟后，加水溶解其他盐类，采用快速过滤，然后灼烧沉淀至恒重，称量SiO₂的质量。

特点：此法较为简单快速，但结果往往偏低，因为滤液中可能残留硅酸，且硅酸沉淀内可能夹杂有少量的铝、钛等元素。

氟硅酸钾容量法

过程简述：试样碱熔后使SiO₂转化为硅酸盐，在硝酸介质中，加入KCl和KF，生成氟硅酸钾沉淀（SiO₂- + 6F- + 2K+ + 6H+ = K₂SiF₆↓ + 3H₂O）。将沉淀转移至塑料烧杯中，加入溶剂及指示剂，加沸水使沉淀水解，用NaOH溶液中和HF，由NaOH溶液的用量计算SiO₂的百分含量。

特点：此法分析快速、干扰小，但结果也可能偏低，且操作要求高，较难掌握。

二、现代分析方法

分光光度法

原理：利用物质对光的吸收特性来测定其含量的方法。通过测量溶液在特定波长下的吸光度，可以计算出溶液中SiO₂的浓度。

应用：常用于测定可溶性二氧化硅的含量，具有较高的准确性和灵敏度。

原子吸收光谱法

原理：利用气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法。

应用：可用于直接测定粉煤灰中SiO₂的含量，具有操作简便、灵敏度高的优点。

X射线荧光光谱法

原理：利用X射线照射样品，使样品中的原子内层电子被激发而释放出次级X射线（即X射线荧光）。通过测量X射线荧光的能量和强度，可以确定样品中元素的种类和含量。

应用：适用于多元素同时分析，且具有较高的准确性和灵敏度。

三、其他注意事项

在进行测定时，应确保样品的代表性，避免污染和损失。

选择适宜的测定方法和标准，以提高测定结果的准确性和可靠性。

不同的测定方法可能对结果产生一定的影响，因此在实际应用中应根据具体情况进行选择和优化。

综上所述，粉煤灰中二氧化硅含量的测定方法多样，包括化学分析方法和现代分析方法等。在选择测定方法时，应综合考虑样品特性、测定要求以及实验室条件等因素。